ТЕМ - Трансмисиона електронска микроскопија

Трансмисиона електронска микроскопија (ТЕМ) е техника на снимање со висока резолуција во која сликата се создава кога сноп електрони поминува низ тенок слој на примерок. На сноп електрони влијаат дебелината/густината на примерокот, неговиот состав, а во некои случаи и типот на кристалната решетка. Електроните кои поминуваат низ примерокот последователно даваат контраст во добиената слика. Поради малата бранова должина на трансмисионите електрони, ТЕМ е способен за неспоредлива резолуција. За разлика од скенирачката електронска микроскопија (СЕМ), која собира интензитет на секундарни електрони во секоја точка на скенирање, резолуцијата на ТЕМ е ограничена само со бранова должина на поединечен електрон и квалитет на електронска оптика, што значи дека трансмисионите електронски микроскопи можат рутински да собираат слики под наномеатарска скала (ако не и атомска резолуција). Можете да изберете (скенирачки) трансмисионен електронски микроскоп (С/ТЕМ) и криогени-ТЕМ кој најдобро одговара на вашите потреби.