🔬 Analysis добива ново застапништво за електронска микроскопија – FEI Europe B.V.

Станавме овластени застапници на FEI Europe B.V. за територијата на Србија, Црна Гора, Македонија, БиХ и Албанија. FEI е реномиран производител на:

• SEM – скенирачки електронски микроскопи, користени за испитување на топографијата на материјали, со резолуции до субнанометарско ниво.
• TEM – трансмисиони електронски микроскопи, водечки производ на пазарот, со интегрирана автоматска оперативна процедура за широк спектар апликации кои бараат ултра висока резолуција на ангстромско ниво.
• FIB – системи со фокусирани јонски снопови, кои откриваат дефекти под површината на материјали и уреди. Имаат висок степен на аналогија со SEM системите.
• DualBeam (FIB/SEM) системи, одличен избор за 3D микроскопија, карактеризација на материјали, анализа на грешки во индустриско производство и апликации во контрола на процеси.

#FEIEurope #ElectronMicroscopy #SEM #TEM #FIB #DualBeam #MaterialsScience #Analysis